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HAST高压加速老化试验箱采用高温高压高湿耦合加速模式,模拟严苛湿热、压力环境,可快速暴露元器件、线路板、连接器、半导体等产品的密封性、耐腐蚀、水汽渗透缺陷,老化效率远高于常规湿热箱,大幅缩短产品可靠性验证时间。可以选配7/10 寸高清触控屏/中英文界面,支持编辑多段程式、定时运行、数据存储导出,实时监控温湿度压力曲线;支持一键启停、异常报警记录,适配实验室批量测试需求。满足JESD22A101、IEC、GB/T等 HAST 高压加速老化标准,适配半导体、PCB 线路板、电子元器件、连接器、新能源配件、汽车电子等行业可靠性测试。性能对标日韩进口 HAST 设备,价格更亲民,整机稳定性、测试精度满足高端客户验证要求,适合中小型企业、实验室、电子厂批量采购。

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